TSI參加中國顆粒學會第九屆學術年會暨海峽兩岸顆粒技術研討會

美國TSI公司于2016年8月12-14日，參加了在四川省成都市舉辦的“中國顆粒學會第九屆學術年會暨海峽兩岸顆粒技術研討會”。本屆會議由中國顆粒學會主辦、中國顆粒學會超顆粒專委會協辦，500多位來自海峽兩岸從事顆粒技術研究的專家學者、工程技術人員、企業界代表等齊聚一堂，暢談國內外顆粒學研究與技術的最新進展，探討顆粒行業產、學、研、銷等領域如何更好對接。

美國TSI公司于會上針對“1nm大氣顆粒物的測量”做了主題報告，并展示了以下多種氣溶膠檢測技術和設備。

1、TSI最新推出的SMPS™ 掃描電遷移粒徑譜儀，被廣泛用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標準。選配3777型納米增強儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀（1nm-DMA）組件后，SMPS粒徑譜儀能夠測量納米的粒徑范圍擴展至1nm。

2、3321 空氣動力學粒徑譜儀(APS™) 提供0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實時空氣動力學檢測。這些獨特的粒徑分析儀還檢測0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數據向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。

3、TSI 3330型光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠對顆粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量。基于TSI公司40年氣溶膠儀器設計的經驗，本款產品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統，從而得到高質量和高精度的數據。同時，TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的精確性。該產品是廣大環境研究機構和環境監測部門進行顆粒物監測分析和源解析的最佳儀器。